日本圖技數(shù)據(jù)記錄儀GL260A/GL860A在半導(dǎo)體行業(yè)老化試驗的應(yīng)用案例
發(fā)布日期：2025-02-19 點擊：880
老化測試
在老化測試過程中，半導(dǎo)體產(chǎn)品的電壓、電流、溫度等多個參數(shù)需要同時被監(jiān)測，GRAPHTEC GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀可以提供10個到最高200通道，能夠同時記錄多個參數(shù)。無論是靜態(tài)電流的監(jiān)測，還是工作電流的動態(tài)變化，GL-IV電流輸入模塊都能精準(zhǔn)記錄。
此外，GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀標(biāo)配了約8G閃存，使其能在滿足采樣速度下，能夠支持長時間的數(shù)據(jù)記錄。通過大容量存儲，測試人員無需頻繁導(dǎo)出數(shù)據(jù)，確保整個老化周期的連續(xù)性。長時間的數(shù)據(jù)存儲還有效避免了因數(shù)據(jù)丟失而影響測試結(jié)果的風(fēng)險。
通過GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀，半導(dǎo)體制造商能夠?qū)崟r跟蹤產(chǎn)品在老化過程中各項性能的變化，如電流波動、溫度升高等，及時發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問題。這為產(chǎn)品的設(shè)計改進(jìn)和質(zhì)量控制提供了重要的數(shù)據(jù)支持，確保最終交付的產(chǎn)品符合高標(biāo)準(zhǔn)的質(zhì)量要求。
